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1、質(zhì)量管理五大工具之SPCStatistical Process ControlStatistical Process Control(SPC)(SPC)統(tǒng)計過程控制統(tǒng)計過程控制4TSTS1694916949五大五大工具工具產(chǎn)品質(zhì)量先期策劃和控制計劃產(chǎn)品質(zhì)量先期策劃和控制計劃（APQP&CPAPQP&CP）潛在失效模式和后果分析參考手冊潛在失效模式和后果分析參考手冊（FMEAFMEA）測量系統(tǒng)分析參考手冊測量系統(tǒng)分析參考手冊（MSAMSA）第四版第四版2008.62008.6第四版第四版2010.62010.6統(tǒng)計過程控制參考手冊統(tǒng)計過程控制參考手冊（SPCSPC）第二版第二版2005.7200

2、5.7生產(chǎn)件批準(zhǔn)程序生產(chǎn)件批準(zhǔn)程序（PPAPPPAP）第四版第四版2006.62006.6第二版第二版2008.112008.11 APQP反饋、評定反饋、評定和糾正措施和糾正措施0 01 12 23 34 401 12 23 34 45 5計劃和確定計劃和確定項目項目產(chǎn)品設(shè)計產(chǎn)品設(shè)計和開發(fā)和開發(fā)過程設(shè)計過程設(shè)計和開發(fā)和開發(fā)產(chǎn)品和產(chǎn)品和過程確認(rèn)過程確認(rèn)5 5DFMEAPFMEAMSASPCPPAPSPC課程大綱1.1.SPCSPC的概述的概述2.2.控制圖的應(yīng)用控制圖的應(yīng)用3.3.過程的受失控狀態(tài)過程的受失控狀態(tài)4.4.過程能力研究過程能力研究61.1.SPCSPC的概述的概述7lSPCSPC

3、是英文是英文S Statistical tatistical P Process rocess C Controlontrol的前綴的前綴簡稱簡稱,即即 統(tǒng)計過程控制。統(tǒng)計過程控制。lSPCSPC就是應(yīng)用就是應(yīng)用統(tǒng)計技術(shù)統(tǒng)計技術(shù)對過程中的各個階段收集的對過程中的各個階段收集的數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，并調(diào)整數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，并調(diào)整過程過程，從而達(dá)到改進(jìn)與保證，從而達(dá)到改進(jìn)與保證質(zhì)量的目的。質(zhì)量的目的。什什么么是是SPCSPC8 戰(zhàn)后經(jīng)濟(jì)遭受嚴(yán)重破壞的日本在戰(zhàn)后經(jīng)濟(jì)遭受嚴(yán)重破壞的日本在19501950年通過休哈特早年通過休哈特早期的一個同事戴明期的一個同事戴明(W.Ed-wards Deming)W.Ed-wa

4、rds Deming)博士，將博士，將SPCSPC的的概念引入日本。從概念引入日本。從1950195019801980年，經(jīng)過年，經(jīng)過3030年的努力，日本年的努力，日本躍居世界質(zhì)量與生產(chǎn)率的領(lǐng)先地位。美國著名質(zhì)量管理專躍居世界質(zhì)量與生產(chǎn)率的領(lǐng)先地位。美國著名質(zhì)量管理專家伯格家伯格(Roger W.Berger)Roger W.Berger)教授指出，日本成功的基石之教授指出，日本成功的基石之一就是一就是SPCSPC。美美國貝爾實驗室休哈特博士（國貝爾實驗室休哈特博士（W.A.W.A.ShewhartShewhart）于）于19241924年年發(fā)發(fā)明控制明控制圖圖，開啟開啟了了統(tǒng)統(tǒng)計計品管的新

5、品管的新時時代代。SPCSPC興興起的背景：起的背景：起源起源 1940 1940s s 二次世界大戰(zhàn)期間，二次世界大戰(zhàn)期間，美國軍工產(chǎn)品使用抽樣方案和控美國軍工產(chǎn)品使用抽樣方案和控制圖以保證軍工產(chǎn)品的質(zhì)量。制圖以保證軍工產(chǎn)品的質(zhì)量。9SPCSPC興興起的背景：起的背景：日本日本19501950s s 質(zhì)量管理大師戴明博士在日本工業(yè)產(chǎn)品生產(chǎn)過程中全面推行質(zhì)量管理大師戴明博士在日本工業(yè)產(chǎn)品生產(chǎn)過程中全面推行SPCSPC。日本日本JUSEJUSE（科學(xué)家協(xié)會）設(shè)置（科學(xué)家協(xié)會）設(shè)置“戴明戴明”獎，獎勵那些有效實施統(tǒng)計技術(shù)的企業(yè)。獎，獎勵那些有效實施統(tǒng)計技術(shù)的企業(yè)。石川磬提出石川磬提出“QC“QC七

6、工具七工具”，幫助生產(chǎn)現(xiàn)場人員分析和改進(jìn)質(zhì)量問題，并推動廣泛，幫助生產(chǎn)現(xiàn)場人員分析和改進(jìn)質(zhì)量問題，并推動廣泛應(yīng)用。應(yīng)用。19701970s s 有效地推行有效地推行“QC“QCC C圈圈”和應(yīng)用統(tǒng)計技術(shù)使日本經(jīng)濟(jì)的快速發(fā)展，成為高品質(zhì)產(chǎn)品和應(yīng)用統(tǒng)計技術(shù)使日本經(jīng)濟(jì)的快速發(fā)展，成為高品質(zhì)產(chǎn)品的代名詞。的代名詞。19801980s s 美國等其他國家緊隨日本的步伐，開始推行美國等其他國家緊隨日本的步伐，開始推行“QC“QC小小 組組”和統(tǒng)計技術(shù)的應(yīng)用。和統(tǒng)計技術(shù)的應(yīng)用。美國汽車工業(yè)已大規(guī)模推行了美國汽車工業(yè)已大規(guī)模推行了SPCSPC，如福特汽車公司，通用汽車公司，克萊斯勒，如福特汽車公司，通用汽車公

7、司，克萊斯勒汽車公司等，上述美國三大汽車公司在汽車公司等，上述美國三大汽車公司在ISO9000ISO9000的基礎(chǔ)上還聯(lián)合制定了的基礎(chǔ)上還聯(lián)合制定了QS9000QS9000標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)，編制了準(zhǔn)，編制了SPCSPC手冊。在與汽車有關(guān)的行業(yè)中，頗為流行手冊。在與汽車有關(guān)的行業(yè)中，頗為流行。MOTOROLA MOTOROLA 公司頒布公司頒布“QC“QC挑戰(zhàn)挑戰(zhàn)”，通過，通過SPCSPC的實施改進(jìn)過程能力，并提出追求的實施改進(jìn)過程能力，并提出追求“66”目標(biāo)。目標(biāo)。1987 1987 ISO9000ISO9000標(biāo)準(zhǔn)建立并頒布實施，明確要求實施統(tǒng)計技術(shù)。標(biāo)準(zhǔn)建立并頒布實施，明確要求實施統(tǒng)計技術(shù)。1 0S

8、IX SIGMA TREE中的統(tǒng)計技術(shù).6達(dá)成（完美）改善設(shè)計（果子最集中的地方）過程改善（矮樹上的果子）（地上的果子）全部的果子都在你手中啦能摘到這里的果子，基本上能達(dá)到小康了這里的果子很有限靠天吃飯，撿吃地上不多的果子23：5倍改善34：10倍改善45：27倍改善56：70倍改善因此：36：19,600倍改善1 1品管方法品管方法歷歷程程123456 3.4 233 6,210 697,300 308,700 66,807產(chǎn)品檢查產(chǎn)品檢查產(chǎn)品管制產(chǎn)品管制過程過程管制管制品管品管7手法手法(5S、QCC、ISO9001)管理改管理改進(jìn)進(jìn)(PDCA)一般公一般公司司THREE SIGMA改善改

9、善技術(shù)技術(shù)改改進(jìn)進(jìn)(DMAIC)世界世界標(biāo)竿標(biāo)竿公司公司SIX SIGMA改善改善 方法方法 管制管制試驗計劃與試驗計劃與過程過程結(jié)合結(jié)合試驗計劃與試驗計劃與設(shè)計設(shè)計結(jié)結(jié)合合過程過程管制管制最佳化最佳化設(shè)計設(shè)計管制管制最佳化最佳化PPMAverage CompanyAverage Company一般公司一般公司Best in classBest in class世界世界標(biāo)竿標(biāo)竿公司公司1 2規(guī)格管理的危險性Not just to meet customer or contractual requirements!被BOSS訓(xùn)斥的痛苦!1 3SpecSpecLSLLSLUSLUSLVery Ce

10、nteredVery Centered變異是我們的敵人變異是我們的敵人 LCLLCLUCLUCL不良品已經(jīng)產(chǎn)生不良品已經(jīng)產(chǎn)生潛在不良出現(xiàn)潛在不良出現(xiàn)控制線管理的益處控制線管理的益處1 4測定平均值測定平均值在中心線或平均值兩側(cè)呈現(xiàn)左右對稱之分布在中心線或平均值兩側(cè)呈現(xiàn)左右對稱之分布極大值與極小值數(shù)量很小極大值與極小值數(shù)量很小常態(tài)曲線左右兩尾與橫軸漸漸靠近但不相交常態(tài)曲線左右兩尾與橫軸漸漸靠近但不相交曲線下的面積總和為曲線下的面積總和為 1 1正態(tài)分布特征正態(tài)分布特征1 5正態(tài)分布中，任一點出現(xiàn)在 1內(nèi)的概率為 P(-X+)=68.26%2內(nèi)的概率為 P(-2X+2)=95.45%3內(nèi)的概率為

11、P(-3X+3)=99.73%68.26%95.45%99.73%+1+2+3-1-2-3正態(tài)分布1 6正態(tài)分布概率正態(tài)分布概率(雙邊雙邊)k在內(nèi)的概率在外的概率(P)0.6750.00%50.00%168.26%31.74%1.9695.00%5.00%295.45%4.55%2.5899.00%1.00%399.73%0.27%1 7目標(biāo)值線預(yù)測時間目標(biāo)值線尺寸時間？兩種變差原因及兩種過程狀態(tài)兩種變差原因及兩種過程狀態(tài)如果僅存在變差的如果僅存在變差的普通原因普通原因,隨隨著時間的推移著時間的推移,過程的輸出形成過程的輸出形成一個穩(wěn)定的分布并可預(yù)測一個穩(wěn)定的分布并可預(yù)測如果存在變差的如果存在

12、變差的特殊原因特殊原因，隨著時間的推移，過程的輸出不隨著時間的推移，過程的輸出不穩(wěn)定穩(wěn)定正態(tài)分布與兩種變差原因正態(tài)分布與兩種變差原因受控受控不受控不受控1 8變差的普通原因 V.S.V.S.特殊原因普通原因普通原因Common CauseCommon Cause特殊原因特殊原因Special CauseSpecial Cause大量之微小原因所引起大量之微小原因所引起,不可避免不可避免不管發(fā)生何種之普通原因，其個別不管發(fā)生何種之普通原因，其個別之變異極為微小之變異極為微小幾個較代表性之普通原因如下：幾個較代表性之普通原因如下：（）原料之微小變異（）原料之微小變異（）機械之微小振動（）機械之微小

13、振動（）儀器測定時不十分精確之作法（）儀器測定時不十分精確之作法實際上要除去實際上要除去過程過程上之普通原因，上之普通原因，是件非常不經(jīng)濟(jì)之處置是件非常不經(jīng)濟(jì)之處置一個或少數(shù)幾個較大原因所引起一個或少數(shù)幾個較大原因所引起,可以避免可以避免任何一個特殊原因，都可能發(fā)生任何一個特殊原因，都可能發(fā)生大的變異大的變異幾個較代表性之特殊原因如下：幾個較代表性之特殊原因如下：（）原料群體之不良（）原料群體之不良（）不完全之機械調(diào)整（）不完全之機械調(diào)整（）新手之作業(yè)員（）新手之作業(yè)員特殊原因之變化不但可以找出其原特殊原因之變化不但可以找出其原因，并且除去這些原因之處置，在因，并且除去這些原因之處置，在經(jīng)濟(jì)觀

14、點上講常是正確的經(jīng)濟(jì)觀點上講常是正確的1 9局部性的對策及系統(tǒng)性的對策局部問題的對策局部問題的對策*通常用來消除特殊原因造成的變異通常用來消除特殊原因造成的變異*可以被可以被過程過程附近的人員來執(zhí)行附近的人員來執(zhí)行*一般可以改善一般可以改善過程過程的的 15%15%系統(tǒng)改善的對策系統(tǒng)改善的對策*通常用來減低普通原因造成的變異通常用來減低普通原因造成的變異*幾乎總是需要管理者的行動來加以矯正幾乎總是需要管理者的行動來加以矯正*一般可以改善一般可以改善過程過程的的 85%85%2 0過程控制過程控制范圍范圍不受控不受控（存在特殊原因）（存在特殊原因）受控受控（消除了特殊原因）（消除了特殊原因）持續(xù)

15、改進(jìn)的思維模式持續(xù)改進(jìn)的思維模式2 12 2持續(xù)改進(jìn)的思維模式持續(xù)改進(jìn)的思維模式 過程改進(jìn)循環(huán)過程改進(jìn)循環(huán)1、分析過程、分析過程 2、維護(hù)過程、維護(hù)過程 本過程應(yīng)做什么？監(jiān)控過程性能 會出現(xiàn)什么錯誤？查找變差的特殊原因并 本過程正在做什么？采取措施。達(dá)到統(tǒng)計控制狀態(tài)？確定能力 計劃 實施 計劃 實施 措施 研究 措施 研究 計劃 實施 3、改進(jìn)過程、改進(jìn)過程 措施 研究 改進(jìn)過程從而更好地理解 普通原因變差 減少普通原因變差2.控制圖的應(yīng)用控制圖的應(yīng)用2 4控制控制圖是對圖是對過程過程質(zhì)量加以測定、記錄質(zhì)量加以測定、記錄，從而進(jìn)行從而進(jìn)行控制管理控制管理的一種用科學(xué)方法設(shè)計的圖。的一種用科學(xué)方

16、法設(shè)計的圖。圖上有圖上有中心線中心線(CL-Central Line)(CL-Central Line)、上控制界限上控制界限(UCL-Upper Control Limit)(UCL-Upper Control Limit)和下控和下控制界限制界限(LCL-Lower Control Limit)(LCL-Lower Control Limit)，并有按時間順序抽取的樣本統(tǒng)計量數(shù)值的描點，并有按時間順序抽取的樣本統(tǒng)計量數(shù)值的描點序列，參見控制圖示例圖。序列，參見控制圖示例圖?？刂茍D2 5控制圖由來說明2 6正態(tài)分布有一個結(jié)論對質(zhì)量管理很有用，即無論均值正態(tài)分布有一個結(jié)論對質(zhì)量管理很有用，即無

17、論均值和標(biāo)和標(biāo)準(zhǔn)差準(zhǔn)差取何值，產(chǎn)品質(zhì)量特性值落在取何值，產(chǎn)品質(zhì)量特性值落在33之間的概率為之間的概率為99.73%99.73%，于是落在，于是落在33之外的概率為之外的概率為100%100%一一99.73%=99.73%=0.27%0.27%，而超過一側(cè)，即大于，而超過一側(cè)，即大于-3-3或小于或小于+3+3的概率為的概率為0.27%/2=0.135%1%0.27%/2=0.135%1%，如正態(tài)分布曲線圖。，如正態(tài)分布曲線圖。這個結(jié)論十分重要?？刂茍D即基于這一理論而產(chǎn)生！這個結(jié)論十分重要?？刂茍D即基于這一理論而產(chǎn)生！控制控制圖原理圖原理68.26%68.26%95.45%95.45%99.73

18、%99.73%+1+1+2+2+3+3-1-1-2-2-3-32 7+3+3-3-3 UCLLCLCL時間時間T控制圖的形成控制圖的形成2 8虛發(fā)警報和漏發(fā)警報虛發(fā)警報和漏發(fā)警報兩種錯誤兩種錯誤2 9控制圖的目的控制圖的目的 控制圖和一般的統(tǒng)計圖不同，因其不僅能將數(shù)值控制圖和一般的統(tǒng)計圖不同，因其不僅能將數(shù)值以曲線表示出來，以觀其變異之趨勢，且能顯示以曲線表示出來，以觀其變異之趨勢，且能顯示變異系屬于變異系屬于普通原因普通原因或或特殊原因特殊原因，以指示某種現(xiàn)，以指示某種現(xiàn)象是否正常，而采取適當(dāng)之措施。象是否正常，而采取適當(dāng)之措施。利用控制限區(qū)隔利用控制限區(qū)隔是否為是否為特殊原因特殊原因3 0

19、控制圖種類控制圖種類(以數(shù)據(jù)來分以數(shù)據(jù)來分)3 1計計量量型型數(shù)數(shù)據(jù)據(jù)X-R 均值和極差圖均值和極差圖 計計數(shù)數(shù)型型數(shù)數(shù)據(jù)據(jù)P 不合格品率圖不合格品率圖 X-S 均值和標(biāo)準(zhǔn)差圖均值和標(biāo)準(zhǔn)差圖np 不合格品數(shù)圖不合格品數(shù)圖X-R 中位值極差圖中位值極差圖 C 缺陷數(shù)圖缺陷數(shù)圖 X-MR 單值移動極差圖單值移動極差圖 U 單位產(chǎn)品缺陷數(shù)圖單位產(chǎn)品缺陷數(shù)圖 控制圖的選擇控制圖的選擇確定要制定控制圖的特性是計量型數(shù)據(jù)嗎？關(guān)心的是不合格品率？關(guān)心的是不合格數(shù)嗎？樣本容量是否恒定？使用np或p圖使用p圖樣本容量是否桓定？使用c或u圖性質(zhì)上是否是均勻或不能按子組取樣例如：化學(xué)槽液、批量油漆等？子組均值是否能

20、很方便地計算？使用中位數(shù)圖使用單值圖X-MR是使用u圖否是是是是是是否否否否否子組容量是否大于或等于9？是否能方便地計算每個子組的S值？使用XR圖使用XR圖使用X s圖是是是否否注：本圖假設(shè)測量系統(tǒng)已經(jīng)過評價并且是適用的。公式匯整3 3控制圖種類控制圖種類(依用途來分依用途來分)3 4分析用控制圖分析用控制圖控制用控制圖控制用控制圖判斷過程是否穩(wěn)定不穩(wěn)定，調(diào)至穩(wěn)定判斷過程是否穩(wěn)定不穩(wěn)定，調(diào)至穩(wěn)定過程的過程能力指數(shù)是否滿足要求，過程能力過程的過程能力指數(shù)是否滿足要求，過程能力指數(shù)滿足要求稱之為技術(shù)穩(wěn)態(tài)指數(shù)滿足要求稱之為技術(shù)穩(wěn)態(tài)延長分析控制圖的控制線延長分析控制圖的控制線控制圖的益處合理使用控制圖

21、能合理使用控制圖能 供正在進(jìn)行過程控制的操作者使用供正在進(jìn)行過程控制的操作者使用 有助于過程在質(zhì)量上和成本上能持續(xù)地，可預(yù)測地保持下去有助于過程在質(zhì)量上和成本上能持續(xù)地，可預(yù)測地保持下去 使過程達(dá)到使過程達(dá)到更高的質(zhì)量更高的質(zhì)量更低的單件成本更低的單件成本更高的有效能力更高的有效能力 為討論過程的性能提供共同的語言為討論過程的性能提供共同的語言 區(qū)分變差的特殊原因和普通原因，作為采取局部措施或?qū)ο到y(tǒng)采取措施的指南。區(qū)分變差的特殊原因和普通原因，作為采取局部措施或?qū)ο到y(tǒng)采取措施的指南。3 5搜集數(shù)據(jù)分析用控制圖是否穩(wěn)定？繪直方圖是否滿足能力？控制用控制圖尋找特殊原因檢討機械、設(shè)備提升過程能力3

22、6建立控制圖的四步驟A A收集數(shù)據(jù)收集數(shù)據(jù)B B計算控制限計算控制限C C過程控制解釋過程控制解釋D D過程能力解釋過程能力解釋3 7使用控制圖的準(zhǔn)備建立適用于實施的環(huán)境建立適用于實施的環(huán)境定義過程定義過程確定待管理的特性，考慮到確定待管理的特性，考慮到顧客的需求顧客的需求當(dāng)前及潛在的問題區(qū)域當(dāng)前及潛在的問題區(qū)域特性間的相互關(guān)系特性間的相互關(guān)系確定測量系統(tǒng)確定測量系統(tǒng)(MSA)(MSA)使不必要的變差最小使不必要的變差最小3 8使用控制圖的注意事項分組問題分組問題 主要是使在大致相同的條件下所收集的質(zhì)量特性值分在一組,組內(nèi)不應(yīng)有不同本質(zhì)的數(shù)據(jù),以保證組內(nèi)僅有普通原因的影響.我們所使用的控制圖是

23、以影響過程的許多變動因素中的普通因素所造成的波動為基準(zhǔn)來找出異常因素的,因此,必須先找出過程中普通原因波動這個基準(zhǔn).3 9時間時間質(zhì)量特性質(zhì)量特性過程過程的變化的變化分組時的重要考慮讓組內(nèi)變化只有普通原因讓組內(nèi)變化只有普通原因讓組間變化只有特殊原因讓組間變化只有特殊原因組內(nèi)變異小組內(nèi)變異小組間變異大組間變異大4 0使用控制圖的注意事項分層問題分層問題 同樣產(chǎn)品用若干臺設(shè)備進(jìn)行加工時,由于每臺設(shè)備工作精度、使用年限、保養(yǎng)狀態(tài)等都有一定差異,這些差異常常是增加產(chǎn)品質(zhì)量波動、使散差加大的原因.因此,有必要按不同的設(shè)備進(jìn)行質(zhì)量分層,也應(yīng)按不同條件對質(zhì)量特性值進(jìn)行分層控制,作分層控制圖.另外,當(dāng)控制圖發(fā)

24、生異常時,分層又是為了確切地找出原因、采取措施所不可缺少的方法.4 1復(fù)合層別的說明4 2取樣的方式取樣必須達(dá)到組內(nèi)變異小，組間變異大取樣必須達(dá)到組內(nèi)變異小，組間變異大樣本數(shù)、頻率、組數(shù)的說明樣本數(shù)、頻率、組數(shù)的說明4 3建立建立 圖的步驟圖的步驟A A階段收集數(shù)據(jù)階段收集數(shù)據(jù)A1A1選擇子組大小、頻率和數(shù)據(jù)選擇子組大小、頻率和數(shù)據(jù)子組大小子組大小子組頻率子組頻率子組數(shù)大小子組數(shù)大小A2A2建立控制圖及記錄原始記錄建立控制圖及記錄原始記錄A3A3計算每個子組的均值計算每個子組的均值X X和極差和極差R RA4A4選擇控制圖的刻度選擇控制圖的刻度A5A5將均值和極差畫到控制圖上將均值和極差畫到控

25、制圖上RX 4 4每個子組的平均值和極差的計算第一組第一組第二組第二組第三組第三組第四組第四組樣本樣本1 110010098989999100100樣本樣本2 2989899999898101101樣本樣本3 399999797100100100100樣本樣本4 41001001001001011019999樣本樣本5 510110199999999100100平均平均99.699.698.698.699.499.4100100極差極差3 33 33 32 24 5554321xxxxxxminmaxxxR計算控制限計算控制限B1B1計算平均極差及過程平均值計算平均極差及過程平均值B2B2計算

26、控制限計算控制限B3B3在控制圖上作出平均值和在控制圖上作出平均值和 極差控制限的控制線極差控制限的控制線建立建立 圖的步驟圖的步驟B BRX 4 6RDLCLRDUCLRCLRAXLCLRAXUCLXCLRRRXXX3422?kRRRRkxxxxxkk.21321全距控制圖平均值控制圖控制圖RX 4 7 n2345678910D43.272.572.282.112.001.921.861.821.78D3*0.080.140.180.22 A2 1.881.020.730.580.480.420.370.340.31過程控制解釋過程控制解釋C1C1分析極差圖上的數(shù)據(jù)點分析極差圖上的數(shù)據(jù)點C2

27、C2識別并標(biāo)注特殊原因識別并標(biāo)注特殊原因(極差圖極差圖)C3C3重新計算控制界限重新計算控制界限(極差圖極差圖)C4C4分析均值圖上的數(shù)據(jù)點分析均值圖上的數(shù)據(jù)點超出控制限的點超出控制限的點鏈鏈明顯的非隨機圖形明顯的非隨機圖形超出控制限的點超出控制限的點鏈鏈明顯的非隨機圖明顯的非隨機圖形形C5C5識別并標(biāo)注特殊原因識別并標(biāo)注特殊原因(均值圖均值圖)C6C6重新計算控制界限重新計算控制界限(均值圖均值圖)C7C7為了繼續(xù)進(jìn)行控制延長控制限為了繼續(xù)進(jìn)行控制延長控制限建立建立 圖的步驟圖的步驟C CRX 4 8過程能力解釋過程能力解釋D1D1計算過程的標(biāo)準(zhǔn)偏差計算過程的標(biāo)準(zhǔn)偏差D2D2計算過程能力計算

28、過程能力D3D3評價過程能力評價過程能力D4D4提高過程能力提高過程能力D5D5對修改的過程繪制控制圖并分析對修改的過程繪制控制圖并分析建立建立 圖的步驟圖的步驟D DRX 4 9使用控制圖的注意事項控制界限的重新計算控制界限的重新計算 為使控制線適應(yīng)今后的生產(chǎn)過程,在確定控制圖最初的控制線CL、UCL、LCL時,常常需要反復(fù)計算,以求得切實可行的控制圖.但是,控制圖經(jīng)過使用一定時期后,生產(chǎn)過程有了變化,例如加工工藝改變、刀具改變、設(shè)備改變以及進(jìn)行了某種技術(shù)改革和管理改革措施后,應(yīng)重新收集最近期間的數(shù)據(jù),以重新計算控制界限并作出新的控制圖.5 0控制界限的延用5 13.過程的受失控狀態(tài)過程的受

29、失控狀態(tài)5 2控制圖的分區(qū)控制圖的分區(qū)xUCLCLLCLtCCBABA5 3受控狀態(tài)的判斷受控狀態(tài)的判斷過程數(shù)據(jù)的分布曲線隨時間的輸出時間時間逐漸形成一個穩(wěn)定的分布和基本不隨時間變化且在要求范圍內(nèi)5 4兩類：兩類：點出界判異點出界判異 界內(nèi)點排列不隨機判異界內(nèi)點排列不隨機判異判異準(zhǔn)則：判異準(zhǔn)則：1 1、連續(xù)、連續(xù)9 9點落在中心線同一側(cè)點落在中心線同一側(cè)ABCCBAUCLLCLCLABCCBAUCLLCLCL2、連續(xù)、連續(xù)6點上升或下降點上升或下降3.3.連續(xù)連續(xù)1414中相鄰點上下交替中相鄰點上下交替ABCCBAUCLLCLCL4.4.連續(xù)連續(xù)3 3點中有點中有2 2點在同一側(cè)的點在同一側(cè)的

30、A A區(qū)或區(qū)或A A區(qū)以外區(qū)以外ABCCBAUCLLCLCL5.5.連續(xù)連續(xù)5 5點中有點中有4 4點在同一側(cè)的點在同一側(cè)的B B區(qū)或區(qū)或B B區(qū)以外區(qū)以外ABCCBAUCLLCLCL6.6.連續(xù)連續(xù)1515點在點在C C區(qū)中心線上下區(qū)中心線上下ABCCBAUCLLCLCL7.連續(xù)連續(xù)8點在中心線兩側(cè)，但無一點在點在中心線兩側(cè)，但無一點在C區(qū)中區(qū)中ABCCBAUCLLCLCL1.至少連續(xù)至少連續(xù)25組，且數(shù)據(jù)總數(shù)不少于組，且數(shù)據(jù)總數(shù)不少于100個；個；2.未出現(xiàn)未出現(xiàn)8條判異準(zhǔn)則。條判異準(zhǔn)則。4.4.過程能力研究6 3 帶有不同水平的變差的能夠符合規(guī)范的過程（所有的輸出都在規(guī)范之內(nèi)）帶有不同水

31、平的變差的能夠符合規(guī)范的過程（所有的輸出都在規(guī)范之內(nèi)）規(guī)范下限規(guī)范下限 LCL規(guī)范上限規(guī)范上限 UCL范圍范圍 LCL UCL范圍范圍不能符合規(guī)范的過程（有超過一側(cè)或兩側(cè)規(guī)范的輸出）不能符合規(guī)范的過程（有超過一側(cè)或兩側(cè)規(guī)范的輸出）LCL LCL UCL UCL范圍范圍范圍范圍6 4過程能力過程能力分析分析準(zhǔn)度：好準(zhǔn)度：好精度：好精度：好CaCa準(zhǔn)確度準(zhǔn)確度,Cp,Cp精密度精密度準(zhǔn)度：好準(zhǔn)度：好精度：較不好精度：較不好準(zhǔn)度：不好準(zhǔn)度：不好精度：好精度：好準(zhǔn)度：不好準(zhǔn)度：不好精度：不好精度：不好6 5q 能生產(chǎn)均一品質(zhì)制品的能生產(chǎn)均一品質(zhì)制品的過程過程固有能力。固有能力。什么叫什么叫過程能力過程

32、能力？l 過程過程被被控制控制時，表示時，表示過程過程中生產(chǎn)的制品品質(zhì)變動是什么程度的量。中生產(chǎn)的制品品質(zhì)變動是什么程度的量。q 一切品質(zhì)特性都具有它的目標(biāo)值一切品質(zhì)特性都具有它的目標(biāo)值(Target Value)Target Value)，品質(zhì)是與目標(biāo)值的偏差越小越優(yōu)秀。品質(zhì)是與目標(biāo)值的偏差越小越優(yōu)秀。6 6過程能力過程能力指數(shù)指數(shù)-短期短期過程能力過程能力指數(shù)用指數(shù)用 C CP P,C,CPK PK 來表示，長期來表示，長期過程能力過程能力指數(shù)指數(shù)（過（過程性能指數(shù)）程性能指數(shù)）用用 P PP P,P,PPKPK來表示。來表示。-在這里在這里C CP P 或或 P PP P 是是過程過程平

33、均與規(guī)格中心一致時的平均與規(guī)格中心一致時的過程能力過程能力指數(shù)指數(shù)，C CPKPK 或或 P PPKPK 是是過程過程平均與規(guī)格中心不一致時的平均與規(guī)格中心不一致時的過程能力過程能力指數(shù)。指數(shù)。q 過程能力過程能力指數(shù)指數(shù)(Process Capability Index)Process Capability Index)l 在在SPCSPC中中l(wèi) 過程能力過程能力指數(shù)是指數(shù)是過程過程能生產(chǎn)多么均勻品質(zhì)產(chǎn)品的能力，能生產(chǎn)多么均勻品質(zhì)產(chǎn)品的能力，即，評價即，評價過程能力過程能力的的指標(biāo)指標(biāo)。6 7過程能力過程能力指數(shù)指數(shù)q 短期短期過過程能力指數(shù)程能力指數(shù) l l 過程過程平均和規(guī)格中心一致時平

34、均和規(guī)格中心一致時6 LSLUSLCp),(puplPKCCMinCl l 過程過程平均和規(guī)格中心不一致時平均和規(guī)格中心不一致時,3xUSLCpu3LSLxCpl其中其中,2dRSigma P(Process)6 8 n2345678910d21.131.692.062.332.532.702.852.973.08Cpk 等級之說明等級之說明(當(dāng)當(dāng) Ca=0 )6 E 級級6 D 級級6 C 級級6 B 級級6 A 級級規(guī)格中心值規(guī)格中心值規(guī)格上限規(guī)格上限規(guī)格下限規(guī)格下限T=10 T=8 T=6 T=4 T=12 6 9Ca準(zhǔn)確度準(zhǔn)確度Capacity of AccuracyCa=L1/L2L

35、1=X SLL2=(USL LSL)/2等級等級CaCa值值A(chǔ) AB BC CD DCa 12.5%12.5%12.5%Ca 25%25%25%Ca 50%50%50%Ca7 0Case study 例：某產(chǎn)品的電性規(guī)格是例：某產(chǎn)品的電性規(guī)格是56056010 m/m10 m/m，經(jīng)，經(jīng)檢驗一批后求出檢驗一批后求出33為為5615619 9 m/mm/m(Xbar=561,(Xbar=561,=3)=3)。求：求：(1)Cp,Cpu,Cpl(1)Cp,Cpu,Cpl(2)Cpk(2)Cpk7 1過程能力過程能力指數(shù)指數(shù)q 長長期期過程過程能力指數(shù)能力指數(shù)（過程性能指數(shù)）（過程性能指數(shù)）l l

36、過程過程平均和規(guī)格中心一致時平均和規(guī)格中心一致時l l 過程過程平均和規(guī)格中心不一致時平均和規(guī)格中心不一致時(不對稱時不對稱時)l S S 表示表示長長期標(biāo)準(zhǔn)差期標(biāo)準(zhǔn)差，在產(chǎn)品開發(fā)階段中針對試作，在產(chǎn)品開發(fā)階段中針對試作過程過程能力的能力的評估，則稱為先期評估，則稱為先期過程過程能力能力(APQP)(APQP)SLSLUSLPp6),(puplPKPPMinP其中其中,3SxUSLPpu1)(2nxxSiSLSLxPpl3Sigma A(Actual)7 2CPK和PPK的差異CpkCpk：只考慮了組內(nèi)變異，而沒有考慮組間變異，所以一定是只考慮了組內(nèi)變異，而沒有考慮組間變異，所以一定是適用于制

37、程穩(wěn)定適用于制程穩(wěn)定時，其時，其組間變異很小可以忽略時，不然會高估了制程能力；另句話也可以說明如果努力組間變異很小可以忽略時，不然會高估了制程能力；另句話也可以說明如果努力將組間變異降低時所能達(dá)到的程度。將組間變異降低時所能達(dá)到的程度。PpkPpk：考慮了總變異考慮了總變異(組內(nèi)和組間組內(nèi)和組間)，所以是比較真實的情形，所以一般想要了解真正，所以是比較真實的情形，所以一般想要了解真正的制程情形應(yīng)使用的制程情形應(yīng)使用PpkPpk。73過程能力分析6Sigma PPMCp Cpk良品率良品率(%)6915000.33-0.1730.853085370.670.1769.156680710.593.

38、3262101.330.8399.382331.671.1799.983.421.599.99966注：按偏移1.51.5考慮7 4過程能力分析（步驟）正態(tài)性檢驗統(tǒng)計/質(zhì)量工具/能力分析/正態(tài)統(tǒng)計/質(zhì)量工具/Capability Capability SixpackSixpack/正態(tài)統(tǒng)計/質(zhì)量工具/個體分布標(biāo)識BOX-CO或Johnson統(tǒng)計/質(zhì)量工具/能力分析/非正態(tài)是否是否P值0.057 5對正態(tài)分布數(shù)據(jù)的對正態(tài)分布數(shù)據(jù)的過程能力過程能力分析分析例題例題 1為了過程能力分析，20天各選 5個核心部品特性值的長度(mm)的量測DATA如下。通過正態(tài)性檢定(Normality Test)確認(rèn)

39、DATA是正態(tài)分布，核心部品的規(guī)格是按顧客要求600mm 2mm.通過以下DATA做過程能力分析。598.0599.8600.0599.8600.0600.0598.8598.2599.4599.6599.4599.4600.0598.8599.2599.4599.6599.0599.2600.6598.8598.8599.8599.2599.4600.0600.2600.2599.6599.0599.0599.8600.8598.8598.2600.0599.2599.8601.2600.4600.2599.6599.6599.6600.2599.2599.0599.6600.4600.05

40、99.0599.6599.4599.2597.8600.4599.6600.0600.8600.4599.4599.0598.4599.0599.6598.8599.2599.6598.6599.8599.6599.2599.6600.2599.8599.6600.0599.6599.2598.6599.6601.2599.6600.2600.0600.0599.4599.8599.2599.6599.4600.0600.0599.2599.4599.6599.8599.0599.6599.41 2 3 4 5 6 7 8 9 1011 12 13 14 15 16 17 18 19 20qq

41、Capability Analysis(Normal)Capability Analysis(Normal)7 6Step 3 確認(rèn)結(jié)果確認(rèn)結(jié)果 規(guī)格上限 Target 規(guī)格下限 平均 樣本數(shù) 短期標(biāo)準(zhǔn)差 長期標(biāo)準(zhǔn)差潛在的 執(zhí)行曲線實際的 正態(tài)曲線 潛在的過程 能力指數(shù) Cp 考慮傾斜的 潛在過程能力 指數(shù) Cpk只用只用過程過程的群內(nèi)變動評價執(zhí)行能力的指數(shù)。即意味著的群內(nèi)變動評價執(zhí)行能力的指數(shù)。即意味著 Cp改善可能最大限度是改善可能最大限度是 1.16為至。為至。Capability Analysis(Normal)Capability Analysis(Normal)7 7 實際過程能力

42、 指數(shù) Pp 考慮偏移的 實際過程能力 指數(shù) Ppk實際實際過程能力過程能力根據(jù)所有根據(jù)所有DATA的變動值評價的變動值評價過程能力過程能力的指數(shù)的指數(shù)Capability Analysis(Normal)Capability Analysis(Normal)7 8用用 ppm表示實際表示實際抽樣的抽樣的DATA偏離規(guī)格的程度。偏離規(guī)格的程度。Capability Analysis(Normal)Capability Analysis(Normal)7 9潛在的預(yù)想執(zhí)行能力潛在的預(yù)想執(zhí)行能力只考慮只考慮過程過程的群內(nèi)變動顯示正態(tài)分布時，數(shù)據(jù)表現(xiàn)為的群內(nèi)變動顯示正態(tài)分布時，數(shù)據(jù)表現(xiàn)為 偏離規(guī)格的

43、預(yù)想偏離規(guī)格的預(yù)想 ppm Capability Analysis(Normal)Capability Analysis(Normal)8 0實際預(yù)想完成能力實際預(yù)想完成能力對所有對所有DATA的變動值來顯示正態(tài)分布時，的變動值來顯示正態(tài)分布時，DATA表現(xiàn)偏離規(guī)格的預(yù)測表現(xiàn)偏離規(guī)格的預(yù)測 ppm因過程平均以規(guī)格中心為基準(zhǔn)往 LSL方向傾斜，所以需要與過程變動的減少一起 能與規(guī)格中心一致的過程平均的移動。Capability Analysis(Normal)Capability Analysis(Normal)8 1191715131197531600.0599.5599.0樣樣本本均均值值_

44、X=599.548UCL=600.321LCL=598.7751917151311975313.01.50.0樣樣本本極極差差_R=1.341UCL=2.835LCL=02015105601.5600.0598.5樣樣本本值值601.50600.75600.00599.25598.50597.75LSLUSLLSL598USL602規(guī)格602600598組內(nèi)整體規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)差0.576429Cp1.16Cpk0.9組內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)差0.619299Pp1.08Ppk0.83Cpm*整體C C1 1 的的 P Pr ro oc ce es ss s C Ca ap pa ab bi il li it ty

45、y S Si ix xp pa ac ck kX Xb ba ar r 控控制制圖圖R R 控控制制圖圖最最后后 2 20 0 個個子子組組能能力力直直方方圖圖正正態(tài)態(tài) 概概率率圖圖AD:0.844，P:0.029能能力力圖圖8 2附附:MINITAB上的工程能力分析上的工程能力分析Q 1.在旁邊的結(jié)果中在旁邊的結(jié)果中Cpk值與值與 ppk值為什么相同值為什么相同?Q 2.Cpk和和Cpl,Cpu的各個的各個 含義是什么？含義是什么？Q 3.如果如果 Cpk 是負(fù)數(shù)的話是負(fù)數(shù)的話,這意味著什么這意味著什么?Q 4.Cpk=0 這意味著什么這意味著什么?Q 5.Cp和和Cpk之中之中 哪個指數(shù)更

46、有用哪個指數(shù)更有用?353025201510LSLUSLLSL20Target*USL30Sample Mean22.9Sample N40StDev(Within)6.67223StDev(Overall)6.84929Process DataCp0.25CPL0.14CPU0.35Cpk0.14Pp0.24PPL0.14PPU0.35Ppk0.14Cpm*Overall CapabilityPotential(Within)CapabilityPPM USL200000.00PPM Total575000.00Observed PerformancePPM USL 143639.14PPM

47、 Total 475552.10Exp.Within PerformancePPM USL149960.39PPM Total485961.63Exp.Overall PerformanceWithinOverallP Pr ro oc ce es ss s C Ca ap pa ab bi il li it ty y o of f T To or rq qu ue e8 3 假設(shè)前面所提到的例題的假設(shè)前面所提到的例題的Spec(Spec:25+/-5)是相同但是其是相同但是其Data是經(jīng)過長時間的是經(jīng)過長時間的Data時我們要考慮異常原因時我們要考慮異常原因 這時用這時用?來反映工程能力是比

48、較合理來反映工程能力是比較合理.Minitab Menu:Stat/Quality Tools/Capability Analysis(Normal)注意注意 -Subgroup Size?-Subgroup Number?Lot1Lot2Lot3Lot4Lot5 24212816181427321730182424222127211634161724222014322637191531313616142734211614353025201510LSLUSLLSL20Target*USL30Sample Mean22.9Sample N40StDev(Within)6.2156StDev(Ov

49、erall)6.84929Process DataCp0.27CPL0.16CPU0.38Cpk0.16Pp0.24PPL0.14PPU0.35Ppk0.14Cpm*Overall CapabilityPotential(Within)CapabilityPPM USL200000.00PPM Total575000.00Observed PerformancePPM USL 126667.16PPM Total 447071.54Exp.Within PerformancePPM USL149960.39PPM Total485961.63Exp.Overall PerformanceWit

50、hinOverallP Pr ro oc ce es ss s C Ca ap pa ab bi il li it ty y o of f C C2 2Case study 8 45 5.其他控制圖8 5控制圖sX A A收集數(shù)據(jù)：在計算各個子組的平均數(shù)和標(biāo)準(zhǔn)差其公式分別如下：收集數(shù)據(jù)：在計算各個子組的平均數(shù)和標(biāo)準(zhǔn)差其公式分別如下：nxxxxxxxn.543211)(2nxxsi8 6SBLCLSBUCLSCLSAXLCLSAXUCLXCLRRRXXX3433標(biāo)準(zhǔn)差控制圖平均值控制圖B B計算控制限計算控制限控制圖sX 8 7nC過程控制解釋n(同 圖解釋)控制圖sX RX 8 8n23456

51、78910B43.272.572.272.091.971.881.821.761.72B3 *0.030.120.190.240.28A32.661.951.631.431.291.181.101.030.98nD過程能力解釋控制圖sX 4csSigma P8 9MeanSigmaSubgroup#1234567891011(X-bar)(S)18.007.708.108.007.908.007.808.008.108.007.808.030.0327.106.907.407.507.607.707.507.407.807.307.208.010.0538.007.507.607.807.60

52、7.707.607.807.407.807.907.800.07.307.507.807.907.607.807.907.407.507.707.807.607.720.08Average7.890.04Xbar ChartHere S UCL(Xbar)=X+0.927S =7.89+1.42(0.04)=8.04(8.00-8.03)+(7.70-8.03)+(7.80-8.03)CL(Xbar)=X=7.89S1=0.03LCL(Xbar)=X-0.927S =7.89-1.42(0.04)=7.80(7.10-8.01)+(6.9-8.01)+(7.20-8.01)S2=0.05S C

53、hartUCL(S)=1.679*0.04=0.08CL(S)=S=0.04(8.00-7.80)+(7.50-7.80)+(7.90-7.80)LCL(S)=0.321*S=0.01284S3=0.07Observations1 11 1-1 11 11 1-1 11 11 1-1 18mm之模具沖頭控制圖實例sX 9 0控制圖RX A A收集數(shù)據(jù)收集數(shù)據(jù) 一般情況下，中位數(shù)圖用在樣本容量小于10的情況，樣本容量為奇數(shù)時更為方便。如果子組樣本容量為偶數(shù)，中位數(shù)是中間兩個數(shù)的均值。9 1RDLCLRDUCLRCLRAmXLCLRAmXUCLXCLXRRRXXX342323全距管制圖值管制圖控制

54、圖RX B B計算控制限計算控制限9 2nC過程控制解釋n(同X-R圖解釋)控制圖RX 9 3 n2345678910D43.272.572.282.112.001.921.861.821.78D3*0.080.140.180.22 A2 1.881.190.800.690.550.510.430.410.36控制圖RX 估計過程標(biāo)準(zhǔn)偏差：估計過程標(biāo)準(zhǔn)偏差：2dR9 4?MRX 單值控制在檢查過程變化時不如單值控制在檢查過程變化時不如Xbar-RXbar-R圖敏感。圖敏感。如果過程的分布不是對稱的，則在解釋單值控制圖時如果過程的分布不是對稱的，則在解釋單值控制圖時要非常小心。要非常小心。單值控

55、制圖不能區(qū)分過程零件間重復(fù)性，最好能使用單值控制圖不能區(qū)分過程零件間重復(fù)性，最好能使用Xbar-RXbar-R。由于每一子組僅有一個單值，所以平均值和標(biāo)準(zhǔn)差會由于每一子組僅有一個單值，所以平均值和標(biāo)準(zhǔn)差會有較大的變性，直到子組數(shù)達(dá)到有較大的變性，直到子組數(shù)達(dá)到100100個以上。個以上。9 5A A收集數(shù)據(jù)收集數(shù)據(jù) 收集各組數(shù)據(jù) 計算單值間的移動極差。通常最好是記錄每對連續(xù)讀數(shù)間的差值(例如第一和第二個讀數(shù)點的差，第二和第三讀數(shù)間的差等)。移動極差的個數(shù)會比單值讀數(shù)少一個(25個讀值可得24個移動極差)，在很少的情況下，可在較大的移動組(例如3或4個)或固定的子組(例如所有的讀數(shù)均在一個班上讀

56、取)的基礎(chǔ)上計算極差。?MRX 9 6mRmRmRmXmXxRDLCLRDUCLRCLREXLCLREXUCLXCLX3422全距管制圖值管制圖nB計算控制限9 7?MRX nB計算控制限9 8?MRX n2345678910D43.272.572.282.112.001.921.861.821.78D3*0.080.140.180.22E22.661.771.461.291.181.111.051.010.98樣本容量小于7時，沒有極差的控制下限。C C過程控制解釋過程控制解釋 審查移動極差圖中超出控制限的點，這是存在特殊原因的信號。記住連續(xù)的移動極差間是有聯(lián)系的，因為它們至少有一點是共同的

57、。由于這個原因，在解釋趨勢時要特別注意。可用單值圖分析超出控制限的點，在控制限內(nèi)點的分布，以趨勢或圖形。但是這需要注意，如果過程分布不是對稱，用前面所述的用于X圖的規(guī)則來解釋時，可能會給出實際上不存在的特殊原因的信號9 9?MRX n估計過程標(biāo)準(zhǔn)偏差：n式中，R為移動極差的均值，d2是用于對移動極差分組的隨樣本容量n而變化的常數(shù)。2dR1 0 0?MRX 例1：某制藥廠某種藥品堿的單耗數(shù)據(jù)如表，做單值-移動極差圖1)1)收收集集數(shù)數(shù)據(jù)據(jù)子樣號xRs子樣號xRs13.76143.8123.49153.9733.75163.6443.66173.6753.62183.663.64193.6173.

58、59203.6183.58213.693.67223.68103.63233.66113.67243.62123.63253.61133.661 0 1?MRX 2 2）計算各組的統(tǒng)計量）計算各組的統(tǒng)計量1)計算樣本的平均值：2)計算移動極差Rsi及其平均值：649.32523.9111KiiXKx087.02409.2112426.049.375.327.076.349.311232121KisiSSsRKRxxRxxR個移動極差。依次類推，本例有第二個移動極差為：第一個移動極差為：1 0 2數(shù)據(jù)表如下：子樣號xRs子樣號xRs13.76143.810.1523.490.27153.970.

59、1633.750.26163.640.3343.660.09173.670.0353.620.04183.60.0763.640.02193.610.0173.590.05203.61083.580.01213.60.0193.670.09223.680.08103.630.04233.660.02113.670.04243.620.04123.630.04253.610.21133.660.03合計91.232.09X圖Rs圖平均值3.6490.087CL3.6490.087系數(shù)n=2E2D4UCL3.880.284查表2.663.267LCL3.4181 0 33）計算控制界限X X控制圖

60、控制圖RsRs控制圖控制圖418.3087.0*66.2649.3880.3087.0*66.2649.3649.322ssREXLCLREXUCLXCL不考慮LCLRDUCLRCLss284.0087.0*267.3087.044）作控制圖作控制圖1 0 41 0 5不良和缺陷的說明結(jié)果舉例控制圖車輛不泄漏泄漏P圖NP圖燈亮不亮孔的直徑尺寸太小或太大給銷售商發(fā)的貨正確不正確風(fēng)窗玻璃上的氣泡C圖U圖門上油漆缺陷發(fā)票上的錯誤1 0 6v用來測量在一批檢驗項目中不合格品不合格品(不符合或所謂的缺陷)項目的百分?jǐn)?shù)百分?jǐn)?shù)。v這可以是評價一個特性值特性值（是否安裝了一個特殊的零件）或是許多特性值（在電氣

61、系統(tǒng)檢查臺中是否發(fā)現(xiàn)某些不正常之處）。v把被檢查的每一個組件，零件或項目記錄成合格或不合格（即使一個項目有幾處不合格，也僅記錄為一個不合格項）；v把這些檢驗的結(jié)果按一個有意義的基礎(chǔ)條件分組，并且把不合格的項目用占子組大小的十分之幾來表示。不合格品率的不合格品率的P P圖圖 1 0 7P P控制圖的制做流程A收集數(shù)據(jù)B計算控制限C過程控制解釋D過程能力解釋1 0 8建立建立p p圖的步驟圖的步驟A A階段收集數(shù)據(jù)A1選擇子組的容量、頻率及數(shù)量子組容量分組頻率子組數(shù)量A2計算每個子組內(nèi)的不合格品率A3選擇控制圖的坐標(biāo)刻度A4將不合格品率描繪在控制圖1 0 9A1A1子組容量、頻率、數(shù)量子組容量：用

62、于計數(shù)型數(shù)據(jù)的控制圖子組容量：用于計數(shù)型數(shù)據(jù)的控制圖一般要求較大的子組一般要求較大的子組容量容量(例如例如50200)50200)以便檢驗出性能的以便檢驗出性能的變化，一般希望每組內(nèi)能包括幾個不合格品，但樣本數(shù)如果太變化，一般希望每組內(nèi)能包括幾個不合格品，但樣本數(shù)如果太大大也會有不利之處。也會有不利之處。分組頻率：應(yīng)根據(jù)產(chǎn)品的周期確定分組的頻率以便幫助分析和糾正發(fā)現(xiàn)的問題。時間隔短則反分組頻率：應(yīng)根據(jù)產(chǎn)品的周期確定分組的頻率以便幫助分析和糾正發(fā)現(xiàn)的問題。時間隔短則反饋快，但也許與大的子組容量的要求矛盾饋快，但也許與大的子組容量的要求矛盾子組數(shù)量：子組數(shù)量：要大于等于要大于等于2525組以上，才

63、能判定其穩(wěn)定性組以上，才能判定其穩(wěn)定性。Ppn511 1 0A2A2計算每個子組內(nèi)的不合格品率記錄每個子組內(nèi)的下列值記錄每個子組內(nèi)的下列值 被檢項目的數(shù)量n 發(fā)現(xiàn)的不合格項目的數(shù)量np 通過這些數(shù)據(jù)計算不合格品率nnpndp1 1 1A3A3選擇控制圖的坐標(biāo)刻度描繪數(shù)據(jù)點用的圖應(yīng)將不合格品率作為縱坐標(biāo)，子組描繪數(shù)據(jù)點用的圖應(yīng)將不合格品率作為縱坐標(biāo)，子組識別作為橫坐標(biāo)?？v坐標(biāo)刻度應(yīng)從識別作為橫坐標(biāo)?？v坐標(biāo)刻度應(yīng)從0 0到初步研究數(shù)據(jù)到初步研究數(shù)據(jù)讀數(shù)中最大的不合格率值的讀數(shù)中最大的不合格率值的1.51.5到到2 2倍。倍。劃圖區(qū)域1 1 2A4A4將不合格品率描繪在控制圖上描繪每個子組的描繪每個

64、子組的p p值，將這些點聯(lián)成線通常有助于發(fā)現(xiàn)異常圖形和趨勢。值，將這些點聯(lián)成線通常有助于發(fā)現(xiàn)異常圖形和趨勢。當(dāng)點描完后，粗覽一遍看看它們是否合理，如果任意一點比別的高出或低出許多，檢查計算是當(dāng)點描完后，粗覽一遍看看它們是否合理，如果任意一點比別的高出或低出許多，檢查計算是否正確。否正確。記錄過程的變化或者可能影響過程的異常狀況，當(dāng)這些情況被發(fā)現(xiàn)時，將它們記錄在控制圖的記錄過程的變化或者可能影響過程的異常狀況，當(dāng)這些情況被發(fā)現(xiàn)時，將它們記錄在控制圖的“備注備注”部份。部份。1 1 3計算控制限B1計算過程平均不合格品率B2計算上、下控制限B3畫線并標(biāo)注建立建立p p控制圖的步驟控制圖的步驟B B

65、1 1 4npppLCLnpppUCLndpCLnnndddnnnpnpnpnppppkkkkk)1(3)1(3.2121212211中心線計算平均不合格率及控制限1 1 5畫線并標(biāo)注均值用水平實線線：一般為黑色或藍(lán)色實線。均值用水平實線線：一般為黑色或藍(lán)色實線?？刂葡抻盟教摼€：一般為紅色虛線?？刂葡抻盟教摼€：一般為紅色虛線。盡量讓樣本數(shù)一致，如果樣本數(shù)一直在變化則會如下盡量讓樣本數(shù)一致，如果樣本數(shù)一直在變化則會如下圖：圖：10020030010020010010020030010012121212321 1 6SampleProportion109876543210.040.030.02

66、0.010.00_P=0.01UCL=0.03985LCL=0P Chart of C2Tests performed with unequal sample sizes1 1 7收集數(shù)據(jù)繪圖及計算控制限是否異常延伸控制限N找出異常點原因并提出相應(yīng)措施過程有變化人機料法環(huán)測量Y控制限運用說明1 1 8過程能力解釋普通原因和異因并存找出異因只剩普通原因運用控制圖過程穩(wěn)定(連25點不超限)計算過程能力1 1 9評價過程能力過程穩(wěn)定，不良率維持在一定的水平當(dāng)中降低不良率采取管理上的措施降低普通原因，如此才能縮小控制界限，降低不良率縮小控制限1 2 0改善過程能力過程一旦表現(xiàn)出處于統(tǒng)計控制狀態(tài)，該過程所保持的不合格平均水平即反應(yīng)了該系統(tǒng)的變差過程一旦表現(xiàn)出處于統(tǒng)計控制狀態(tài)，該過程所保持的不合格平均水平即反應(yīng)了該系統(tǒng)的變差原因原因過程能力。在操作上診斷特殊原因過程能力。在操作上診斷特殊原因(控制控制)變差問題的分析方法不適于診斷影響系變差問題的分析方法不適于診斷影響系統(tǒng)的普通原因變差。必須對系統(tǒng)本身直接采取管理措施，否則過程能力不可能得到改進(jìn)。統(tǒng)的普通原因變差。必須對系統(tǒng)本身直接采取管理措施，否